EMC D-FEN-F-00 試験問題集
- 試験コード:D-FEN-F-00
- 試験名称:Dell Prompt Engineering Achievement
- 問題数:0 問題と回答
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EMC D-FEN-F-00 試験概要:
EMC D-FEN-F-00 試験シラバストピック:
| セクション | 比重 | 目標 |
| トピック 1: プロンプトエンジニアリング手法 | 28% | - 主要なプロンプティング戦略
- 1. Few-shot prompting
- 2. プロンプトの明確化のためのベストプラクティス
- 3. Zero-shot prompting
- 4. ロールベースおよびシステムプロンプティング
- 5. Chain-of-thought prompting
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| トピック 2: プロンプトの構造とフォーマット入門 | 38% | - プロンプトデザインの基礎
- 1. プロンプトの作成、洗練、およびイテレーションサイクル
- 2. LLMプロンプティングにおける一般的な課題
- 3. 基本的なプロンプトの構成要素
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| トピック 3: プロンプトエンジニアのための専門的実践 | 16% | - 応用プロンプトエンジニアリング
- 1. コンテキストとメタデータの使用
- 2. プロンプトテンプレートと再利用
- 3. マルチモーダルプロンプトの考慮事項
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| トピック 4: 法的およびコンプライアンス要件 | 8% | - 倫理的および法的考慮事項
- 1. プロンプトエンジニアリングにおける法的枠組み
- 2. AI生成出力の倫理的影響
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| トピック 5: AIおよびNLPの基礎 | 10% | - Generative AI、LLMs、Neural Networks
- 1. GPTsとその重要性
- 2. Generative AI、LLMs、およびNeural Networksの説明
- 3. AIモデルの強みと限界
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